Lebesgue - Stieltjes 積分(その 6)

正則測度

測度空間 (S,\mathcal{M},\mu) において、S が局所 compact Hausdorff 空間の場合を考えます。このとき \mu
1. \mu は完備
2. \mathcal{B}(S)\subset\mathcal{M}
3. C が compact なら \mu(C)<\infty
4. 0<\mu(M)<\infty なる任意の M\in\mathcal{M} に対して、任意に \varepsilon>0 を取ると、開集合 O と compact 集合 C
C\subset M\subset O,\mu(O\setminus M)\leq\varepsilon,\mu(M\setminus C)\leq\varepsilon
を満たすものが存在する
を満たすとき、\mu正則測度であると言います。

Lebesgue - Stieltjes 測度の性質(続き)

Lebesgue - Stieltjes 測度は正則測度になります。そのために、以下の補題を証明します。

補題

A\sub I に対して
{m_g}^*(A)=\inf\{m_g(O):O\in\mathcal{O}(I),O\supset A\}
(証明)
{m_g}^* の定義より、任意の \varepsilon>0 に対し A の被覆で
A\subset\bigcup_{n=1}^\infty J_n,\sum_{n=1}^\infty|J_n|\leq{m_g}^*(A)+\varepsilon
なるものがある。各 J_n は開区間だから O=\bigcup_{n=1}^\infty J_n は開集合。よって
\inf\{m_g(O):O\in\mathcal{O}(I),O\supset A\}\leq{m_g}^*(A)+\varepsilon
である。\varepsilon>0 は任意だから
\inf\{m_g(O):O\in\mathcal{O}(I),O\supset A\}\leq{m_g}^*(A)
である。逆向きの不等式は明らかだから、結局等号が成り立つ。